Untersuchung „dicker“ Proben

Untersuchung „dicker“ Proben

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Im Allgemeinen treten bei der Untersuchung von, im Sinne der EDX-Analyse hinlänglich „dicke“ Proben (d.h. Proben- bzw. Schichtdicke größer als 50 µm), die geringsten Probleme auf und man kann bei Messungen meist mit den Standardeinstellungen der EDX-Systeme arbeiten. Voraussetzung   ist    eine    gute   elektrische    Leitfähigkeit   der   Probenoberfläche    und   eine gleichmäßige Verteilung der in der Probe enthaltenen Elemente:

  • Beschleunigungsspannung des REM’s (Anregungsspannung für  die  Spektrenaufnahme):  20 kV
  • Spektrenbereich: 0 – 20 keV
  • Prozeßzeit: 50 – 100 µs
  • Strahlstrom des REM’s so wählen, dass sich beim EDX-System eine Totzeit von ca. 30 % einstellt (das entspricht in Abhängigkeit t vom vorhandenen Detektortyp einer Zählrate von 1000 bis 20.000 cps)
  • Spektrenaufnahmezeit: mind. 60 s
  • Standardfreie Quantitative Analyse