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IFIB+TM – TESCAN Xe Plasma Ionensäule

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Die Ionensäule (FIB-Säule) erzeugt und fokussiert den Ionenstrahl. Sie befindet sich oben in der Kammer neben der Elektronensäule (SEM-Säule). Zwischen der FIB- und der REM-Säule liegen 55 Grad Kippwinkel.

TESCAN Xe Plasma Ionensäule

 

Die iFIB+(tm) FIB-Säule besteht unter anderem aus den folgenden Teilen:

Ionenkanone (Ionenquelle) – Hier werden Xenonatome aus der Quelle beschleunigt. Die positiv-geladenen Xe-Ionen werden durch eine Beschleunigung durch ein Potential von 3 kV bis 30 kV in diesem Bereich der Säule auf ihre endgültige kinetische Energie, also Geschwindigkeit, gebracht. Das verwendete Xenon befindet sich innerhalb einer externen Gasdruckflasche und sehr einfach durch einen Flaschentausch schnell durch den Nutzer ausgetauscht werden. Für die iFIB+ verwendet TESCAN 5.1 Xe-Gas für eine stabile Ionenemission.

Kondensor – ist eine starke elektrostatische Linse, die den Ionenstrahl in die Apertur fokussiert. Die Hochspannung der Kondensorlinse kann in der TESCAN ESSENCE Software eingestellt werden. Zusammen mit der Apertur (Stromwahlblende) steuert der Kondensor den Ionenstrahlstrom und beeinflusst die Spotgröße des Ionenstrahls.

Säulenventil – ein Trennventil zwischen der Ionenkanone und dem unteren Teil der Ionensäule.

Piezo-Aperturen – ein Satz von 30 resistenten Aperturen in unterschiedlichen Größen. Die Aperturen werden mit Hilfe von zwei schnellen Hochpräzisionsmotoren (Piezomotoren) in der Steuerungssoftware optimiert.

Strahlenabblender (Beamblanker) und Faradaykäfig – der elektrostatische Beamblanker lenkt den Ionenstrahl mit Hilfe von Elektroden in den Faradaykäfig ab und verhindert so ein unerwünschtes Auftreffen des Ionenstrahls auf die Probe. Der Faraday-Cup befindet sich direkt unter den Aperturen und misst den genauen Wert des Strahlstroms. Die Ausblendungszeiten sind sehr kurz, was für eine schnelle Bildgebung und Lithographie notwendig ist.

Raster- und Stigmatisierungs-Oktupole – steuern die Ionenstrahlrasterung. Der Oktupol scannt über die Probenoberfläche, kann eine elektronische Drehung um einen beliebigen Winkel ohne Bildverzerrung durchführen (FIB Image Rotation in ESSENCE Software) und kann eine Bildverschiebung durchführen (FIB Image Shift). Der Stigmations-Oktupol dient auch zur Korrektur des Astigmatismus des Strahls (FIB-Stigmatoren).

Objektivlinse – ist eine elektrostatische Linse, welche den Ionenstrahl auf die Probenoberfläche fokussiert. Die Hochspannung dieser Linse wird ebenfalls über die TESCAN ESSENCE Software optimiert und eingestellt. Zusammen mit der Kondensorlinse und anderen Säulenbestandteilen trägt die Objektivlinse dazu bei, den Ionenstrahl auf einen kleinen Punkt der Probenoberfläche zu fokussieren. Sogenannte Streustrahlung (Halo) kann dabei minimiert werden. Der Ionenstrahl sollte beim Schneiden auch möglichst senkrecht zur Oberfläche auftreffen, um perfekte Schnittergebnisse zu erzeugen.

Wenn Sie mehr zum Thema FIB-REM erfahren wollen, buchen bei uns gerne eine FIB-Intensivschulung an Ihrem TESCAN FIB REM.

Die iFIB+(tm) Säule ist enthalten in den TESCAN Produkten: AMBER X, SOLARIS X

InBeam-Detektor (InLens-Detektor)

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Die beste Auflösung erzielt ein REM bei kürzesten Arbeitsabständen (WD). Durch den schlechtere Abnahmewinkel und Abschattungen nimmt jedoch, ab einem bestimmten WD, die Effizienz des in der Probenkammer befindlichen SE-Detektors dramatisch ab. Daher kommen bei Feldemissionsgeräten sogenannte InBeam-Detektoren (auch InLens-Detektoren genannt) zum Einsatz. Diese sitzen in der REM-Säule und zeigen eine deutlich bessere Performance bei kleinen WD (≤ 5mm).

 

InBeam-SE Detektor 

Bei einem InBeam–Detektor werden die von der Probe ausgelösten Sekundärelektronen auf einer Spiralbahn um den Elektronenstrahl herum durch die Öffnung der Objektivlinse zu einem Szintillations-Detektor geführt, der sich innerhalb der Objektivlinse befindet (Abbildung 1). Dies geschieht durch den Einbau einer zusätzlichen elektrostatischen Linse innerhalb der Objektivlinse, die gleichzeitig der Fokussierung des Primärelektronenstrahls dient, als auch der Extraktion der SE von der Probe zum Detektor (Kollektorfunktion).
Die Funktion des Szintillations-Detektors selbst ist im Abschnitt „Detektoren – Szintillationsdetektor nach Everhart-Thornley“ beschrieben.

InBeam-RE Detektor 

Ein In-Beam-RE-Detektor (auch In-Beam-BSE) befindet sich im oberen Teil der Elektronensäule und basiert auf Prinzip des Szintillator-Detektors. Aufgrund des Aufbaus detektiert dieser hauptsächlich axial rückgestreute Elektronen (RE), d.h. RE mit einem engen Austrittswinkel (Abbildung 1). Somit ist der In-Beam-RE Detektor komplementär zu einem einziehbaren RE-Detektor in der Kammer, der hauptsächlich Weitwinkel-REs erfasst.

Abbildung 1: Schematischer Aufbau von In-Beam-SE und InBeam-BSE Detektoren in der REM Säule

Empfohlene Bedingungen für den In-Beam-RE-Detektor sind kurze Arbeitsabstände (WD <7 mm) sowie höhere Strahlströme. Die Funktion des RE Detektors selbst ist im Abschnitt „Detektoren – Szintillator-Rückstreuelektronen-Detektor“ beschrieben.

 

Ionengetterpumpe

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Die Ionengetterpumpe (Ionenzerstäuberpumpe) ist eine Sonderform der Sorptionspumpe, bei der die Restgaspartikel (Atome oder Moleküle) durch Elektronenstoß ionisiert und durch ein elektrisches Feld auf eine Oberfläche beschleunigt werden; dort können sie chemisch gebunden oder implantiert werden und sind damit dem Restgas entzogen. Read more